mini大功率测试系统htol-尊龙凯时网址

htol（高温工作寿命）是一种测试方法，旨在在较长时间内对设备施加压力，从而可以计算设备的长期可靠性。该测试适用于广泛的元件制造应用，尤其是 ic 制造商，包括放大器、滤波器和收发器。该概念需要一个高功率信号源和一个射频分配器系统，以在大量 dut（被测设备）通道上并行分配测试信号，从而可以对可靠性进行统计上的计算。

htol-700-2700-1w 是一款现成的集成测试系统，专为 htol/老化测试应用而设计。完整的设置在一个标准的 19 英寸机柜中提供，能够在 700-2700 mhz 频段以 1w 的功率驱动 80 个并行 dut。信号源可通过 usb 或以太网控制（支持 http 和 telnet 网络协议）。提供完整的软件支持，包括我们用于 windows 的用户友好的 gui 应用程序和带有 windows 和 linux 环境编程说明的完整 api。

• 完全集成的测试系统
• 80 个输出通道
• 每通道 1w 饱和功率
• 覆盖 700-2700 mhz 蜂窝频段

电源：交流电源输入（90-260 v，47-63 hz）

工作温度：0 至 50 ºc

射频连接器

控制板：前面板

连接器：sma 母头

数量：80

功能：被测设备连接

尺寸：19” (w) x 37u (h) x 20” (d)

高温工作寿命 (htol)

大功率老化/射频压力测试

半导体/元件鉴定

大功率信号源和分配

emc/emi 测试