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frt microprof ap 是一种全自动晶圆计量工具,适用于不同 3d 封装工艺步骤的广泛应用,例如用于测量光刻胶 (pr) 涂层和结构、通过硅通孔 (tsv) 或蚀刻后的沟槽、μ 凸块和铜柱,以及在减薄、键合和堆叠过程中进行测量。凭借其模块化多传感器概念,灵活的 microprof ap 测量工具非常适合在封装中执行各种测量任务。
frt microprof ap 还为功率半导体(例如 mosfet 或 igbt)的背面处理(背面研磨、金属化)以及不同基板的控制提供测量人生就是博手机版的解决方案,例如体硅、soi、腔体 soi、gaas、inp、sic、gan、zno 等化合物,也用于透明材料。此外,它还可以用于混合键合和微机电系统 (mems),包括消费电子、汽车、电信和工业市场。
按需改造
> pi和pr膜厚,pi和pr开孔
> cd 和覆盖
> tsv 计量、填充监测、沟槽
> 种层金属检测
> 镀铜厚度
> cmp 后的平整度和均匀度
> ubm 高度和粗糙度
> rdl 厚度、宽度和粗糙度
> 补充和增强自动碰撞检测系统的性能
> 凹凸和钉子的高度、直径和共面性
> 弯曲和压力
> 载体、粘合剂、键合晶圆厚度和 ttv
> 最终封装的形貌和平面度
>热负荷下的堆垛变形
> 模具检验
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