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产品介绍
显著改善铁含量的测量并增强与实验室分析的一致性
新型能量色散电离室，用于同时测量铁和锌的辐射
优化的几何形状和增加的测量通道数量，以降低对表面纹理和拓扑的敏感度
测量头内部测量信号的数字化，以在工业环境中实现抗干扰性
使用xrf和康普顿散射，涂层厚度可达500 g/m2
新设计的电离室，效率更高
优化的测量几何形状，对距离变化的灵敏度小
规格参数
新的rs40i-ga测量头及其优化的测量算法，在铁含量测量的准确性和可靠性方面取得了另一项突破。新型测量头的中心部分是能量分散电离室，可同时测量铁和锌的荧光辐射。确定辐射分量的信号以准确测量测量区域。创新的电离室和增加的测量通道数量使得探测器布置具有严格的对称性和冗余性。这使得对表面纹理和拓扑的敏感性降低。模块化，易于维护的设计简化了仪表头的维护，减少了停机时间和成本。
使用xrf方法测量锌涂层将有用的测量范围限制在350g/m2。rs40i-xt将锌涂层的有用测量范围提高到500g/m2甚至更高。这通过将涂层中的弹性和非弹性散射包括在测量效果中而成为可能。弹性和非弹性散射x射线的能量由初级x射线束和测量几何形状确定。rs40i-xt，测量范围为10至500g/m2。