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产品介绍
大块材料刻蚀和样品深层次分析：快速、灵活、高度整合。
auriga laser 与电子显微镜组合可以实现高速且精细的材料刻蚀。使用脉冲激光束在最短时间内刻蚀样品材料。借助聚焦离子束精准地对感兴趣的样品区域进行重新加工。在同一系统内充分发挥 fib-sem 的成像品质。
您能够在同一系统中创建高分辨纳米级图像，使用 x 射线分析功能检测样品。同时还能够在最短时间内处理非导电材料样品及其复杂的几何结构。只需一步操作便能获得所有需要的信息。
规格参数